电磁兼容领域集成电路测试的两种方法

1.引言

集成电路相关技术作为发展前景的技术。目前，国家高度重视集成电路的芯片研发领域，特别是集成电路的芯片研发领域。

近年来，我国越来越多的科研机构、高校、IC企业研发部门逐步关注和从事集成电路的电磁兼容性（IC EMC）研究。目前关于IC EMC国外相关研究起步较早，发展迅速，形成了相对完善的理论体系和欧洲法国、德国、美国、韩国、日本、新加坡等先进的测试研究设备。国内相关IC EMC目前，研究集中在国防科技大学、浙江大学、信息工程大学、中国科学院微电子研究所等高校，近年来取得了重要成果。

2.电磁敏感度

电磁兼容分为电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS）。简单的说，EMI指影响其他设备正常工作的电磁辐射，EMS指设备抵抗外界电磁辐射干扰的能力。目前，电磁敏感性测试分为传导、辐射、静电放电、快速脉冲群、浪涌等多个项目。本文介绍了两种测试方法。

3.电磁敏感度测试方法

3.1 传导抗扰度

传导抗扰性试验主要分为直接功率注入法和大电流注入法。这里介绍了直接功率注入法。直接功率注入法通过干扰源产生干扰脉冲，通过功率放大器、定向耦合器注入网络，然后注入测试设备。设备的功能状态通过故障判断来确定注入电压的大小。测试框图如图1所示，图2为实际设备的配置，具体配置参考IEC62132。

图1.测试框图

图2.测试设备

在测试过程中，要注意尽量按照测试标准进行测试，此外，相关测试板的设计要充分考虑接地设置。

3.2 静电放电

静电放电试验是设备抗扰性试验的重要工程。目前，静电放电试验是设备抗扰性试验的重要工程。ESD我国研究起步较早，取得了良好的研究成果。ESD相关测试设备太贵，一般小型研究机构不能从事进一步研究，其研究成果主要集中在测试设备齐全的大型研究机构。

目前国际上有关系ESD测试的一般标准IEC61000，规定了ESD脉冲的幅和上升时间如图3所示，图4为标准ESD发生器模型。

图3.ESD脉冲波形

图4.ESD发生器模型

ESD测试方法简单，只需将测试探头压在测试引脚上，注入脉冲波形即可。在测试过程中，测试人员应全程佩戴接地手镯，防止人体静电干扰。

推荐型号：

SESD216静电放电发生器    16.5kV

SESD230静电放电发生器    30kV

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