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致茂安规综合测试仪

简要描述:Chroma 19036致茂安规综合测试仪为绕线组件电气安规扫描分析仪结合了耐压测试 (AC/DC)、绝缘电阻测量 (IR)、直流电阻测量 (DCR) 与脉冲测试( IWT) 于一台单机,拥有耐压测试最高AC 5kV/DC 6kV、绝缘电阻测量最高DC 5kV、四线式直流电阻测量范围2mΩ~2MΩ与脉冲测试最高DC 6kV,且拥有10通道可执行一次多个待测物的扫描测试。

  • 产品型号:19036
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-04-09
  • 访  问  量:138

详细介绍

品牌Chroma/致茂产地类别进口
应用领域医疗卫生,电子,航天,汽车,电气

Chroma 19036致茂安规综合测试仪为绕线组件电气安规扫描分析仪结合了耐压测试 (AC/DC)、绝缘电阻测量 (IR)、直流电阻测量 (DCR) 与脉冲测试( IWT) 于一台单机,拥有耐压测试最高AC 5kV/DC 6kV、绝缘电阻测量最高DC 5kV、四线式直流电阻测量范围2mΩ~2MΩ与脉冲测试最高DC 6kV,且拥有10通道可执行一次多个待测物的扫描测试,搭配外接信道扫描盒最多可达到40信道的多组扫描测试,能节省测试时间及人力成本,并大幅提升生产效率。

19036可针对马达、变压器、电感等绕线组件产品进行安规测试,让绕线组件的生产制造商及用户在产品检验时,能更有效率地为产品质量把关。

线圈会发生绝缘不良通常是因为初始设计不良、加工制程不良或是绝缘材料劣化等导致线圈发生圈与圈之间的层间短路、线圈与磁芯的绝缘不良或是线圈与接脚短路。在产品制造的测试项目中加入脉冲测试可对产品进行多种缺陷的分析测量,进而提升绕线组件产品的生产质量。

脉冲测试拥有面积比较、面积差比较、颤动量侦测、二次微分、波峰差比、谐振面积比与频率差比的判定,可针对线圈的层间绝缘不良、质量不良及感量差异进行有效的检测与分析。

19036具备四线式直流电阻测量技术,每通道含有DriveSense的接口,单机可提供10通道的四线式直流电阻测量;直流电阻测量也具备温度补偿功能,可配合温度探棒对待测物或环境温度进行测量后,进行温度补偿的阻值计算。

19036拥有高速接触检查 (HSCC) 及开路检查(OSC) 的功能,在执行测试前快速地为每个通道检查待测物的接触/连接是否良好以及待测物是否有开路或短路的问题,可解决因待测物接触不良而导致测试失败或无效测试的问题。

19036的耐压测试具有500VA的输出功率设计,符合IEC/UL对输出功率的要求 (如马达的安规测试标准UL1004-1GB14711),可输出及测量电流AC最大120mA (<4kV)/DC最大20mA,满足漏电流较大或大型设备的电气安规测试需求。


致茂安规综合测试仪19036产品特点:

■ 五合一安规扫描分析仪 (交流耐压、直流耐压、绝缘电阻、直流电阻、脉冲测试)

耐压测试 (Hi-pot)- 交流最大AC 5kV / 直流最大DC 6kV- 高频接触检查 (HFCC)

绝缘电阻测量 (IR)- 最大 5kV

直流电阻测量 (DCR)- 直流电阻平衡功能 (DCR Balance)

脉冲测试 (IWT)- 波形取样率 (200MHz)- 崩溃电压分析模式的2种判定· 面积比较 (Area)· 二次微分 (Laplacian)- 测试模式的7种判定· 面积比较 (Area)· 面积差比较 (Differential Area)· 颤动量侦测 (Flutter)· 二次微分 (Laplacian)· 波峰差比 (Peak%)· 谐振面积比 (Resonant Area)· 频率差比 ( fr%)

■ Δ/Y型直流电阻 (/Y DCR)

脉冲测试比较 (IWT CMP)

高速接触检查 (HSCC)

开路检查 (OSC)

支持3302/3252感量、Q值量测 (选购)- 电感 (Lx)- 电感平衡 (Lx Balance)

人体接地保护功能 (GFI)

支持最多40信道扫描测试

■ USB数据储存及画面撷取功能

标准LANUSBRS232接口

操作接口( 英文、繁中、简中)


产品优势:

耐压测试

■ 电气闪络侦测 Flashover Detection (ARC)

电气闪络的现象是因电位差或电场强度足以导致绝缘材料的内部或表面失去原有的绝缘特性所产生的瞬时或非连续性放电。当放电的能量释放足以对产品的绝缘材料造成伤害,绝缘材料就会发生碳化导致导电通路的形成进而使产品短路。如果只以漏电流做为判定条件,将无法检测出会发生异常放电的不良产品,所以需要以电压或漏电流的变化率作为判定的条件,才能有效的检测出会发生异常放电的不良品。因此,电气闪络侦测为耐压测试的检验项目之一,19036ACDC Hi-pot测试模式也都具备侦测漏电流变化率的电气闪络侦测功能。

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直流电阻测量 (DCR)

四线式测量/两线式测量 4-wire Measurement / 2-wire Measurement19036 10个通道都拥有四线式直流电阻测量(2mΩ~2MΩ)的能力,可提供马达及变压器等多线圈绕组的绕线组件高准确度的直流电阻测量。此外,搭配外接扫描盒最多可支持40通道测量。扫描盒:• 四线式测量: A190362 (搭配四线式高压测试线)• 两线式测量: A190359 (搭配两线式高压测试线)

■ 直流电阻平衡 (DCR Balance)

马达的直流电阻不平衡时,容易因为旋转不平衡造成较多的能量损耗与颤动,长时间使用会导致质量逐渐不良。直流电阻平衡模式的判定方式是将所有绕组中最大的直流电阻值与最小的直流电阻值比较差异,若差异超过允许的设定范围即判定为不良品,这是马达类产品可靠度测试的有效辅助工具。

■ 温度补偿功能 (Temperature Compensation)

当测量较小的直流电阻值时,常会遇到因为温差所造成的测量差异问题。所以,当环境温度不同时,直流电阻值的量测结果会随着温度的不同而有所差异。19036的温度补偿功能(Temp. Compensation)搭配温度探棒并透过温度系数将测量到的直流电阻值换算为目标温度下的电阻值,减少温度差异所造成的影响。

接触检查功能

█ 高速接触检查 High Speed Contact Check (HSCC)

当测试回路发生开路时,不良品可能会被误判为良品,导致测试的结果无效。若测试回路发生短路时,需于耐压测试前提早得知,减少对治具设备的伤害。高速接触检查可更快速地扫描所有测试回路上的待测物接触是否正常/良好,可让耐压测试前的接触检查比以往更快完成。

█ 开路检查 Open Short Contact (OSC)

开短路检查可侦测测试治具与待测物之间是否有开路 (接触不良) 以及绕组与铁芯间是否有短路。开短路检查的判断标准为测试回路上的电容值,当测试治具与待测物确实接上时,测试回路的电容值就会在允许的范围内。但是当测试治具与待测物未接触时,测试回路的电容值就会低于允许的范围,被判定为开路;当测试治具或待测物有短路时,测试回路的电容值就会高于允许的范围,被判定为短路。

█ 高频接触检查 High Frequency Contact Check (HFCC)

19036ACDC Hi-pot测试模式都具备高频接触检查。高频接触检查与开短路检查类似,但是使用较高的测试频率来提高对较小电容值(1pF~100pF)的开短路检查。

副步骤功能 (SUB-Step)

生产线经常为了提升生产的检测速度,以并联的方式同时对多个待测物 (测试点) 执行耐压测试,但当并联测试的结果为不良时,因难以区分各别产品为良品还是不良品,导致需将这些产品移至后测站来区分良品与不良品,反而增加测试站的总数及生产成本。副步骤功能 (SUB-Step)是 将主步骤的不良判定 (FAIL) 结果做为触发执行副步骤的条件,所以当主步骤 (并联) 测试的结果为不良时,测试流程才会进入副步骤(单颗)进行各别测试,可快速判断出不良品使产能与检测质量得到优化。

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人体接地保护功能 (GFI)

人体接地保护功能 (GFI) 是用来保护测试人员。当测试人员突然发生人体感电的情形时,人体接地保护功能能够立即切断输出来保护测试人员不受电气伤害。人体接地保护功能利用比较返回的总电流 (i2) 与机器Return端的电流 (i1) 来侦测从地端 (Earth/GND) 流回机器的电流 (iH) 大小。当从地端流回的电流 (iH) 大于0.5mA (Typ.) 时,则会立即切断输出。

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脉冲测试原理

『脉冲测试』是使用合适的测试电压对绕线组件施加一个『非破坏性』、高速、低能量的脉冲电压,藉由分析/比对待测物与样品之等效波形的差异达到判定待测物为良品或不良品。对绕线组件施加脉冲测试主要是为了找出绕线组件的潜在缺陷,例如: 层间短路、电晕放电等,也可利用待测物自体的杂散电容与电感所产生谐振波形的振荡衰减状态来判定产品质量,此震荡衰减的状态表现了待测物的线圈在工作时的能量损耗状态。在开关导通 (ON) 时,脉冲电压会施加在待测物上,利用施加在待测物上的测试电压检测待测物圈与圈之间的绝缘距离是否足够;在开关截止 (OFF) 时,待测物会与自体的杂散电容产生谐振,利用自体谐振波形的衰减状态对待测物的质量进行检测。

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面积比较 (Area)

当开关导通时,脉冲电压会施加在待测物上,待测物会与测试回路上的电容产生谐振,利用电压的峰值对待测物圈与圈之间的绝缘距离进行检测。当待测物圈与圈之间的绝缘距离不足以承受脉冲测试的电压时,圈与圈之间就会发生放电,导致谐振波形的总面积变小。当开关截止时,待测物会与自体的杂散电容产生谐振,利用自体谐振波形的衰减状态对待测物的质量进行检测。自体谐振波形的衰减状态会受到待测物质量的影响,当待测物的质量越差时,自体谐振波形衰减的速度越快,则待测物谐振波形的总面积就会小于样品谐振波形的总面积。因此,面积比较可以用来检测出绝缘距离不足或质量不良的产品。

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面积差比较 (Differential Area)

当脉冲电压施加在待测物上时,待测物会与回路上的电容产生谐振。如果待测物的感量与样品不同,待测物的谐振频率也会与样品的谐振频率不同。因此,待测物的谐振波形与样品的谐振波形就会有不重迭的面积产生。面积差比较会计算出待测物谐振波形与样品谐振波形之间不重迭的面积总和,并与样品谐振波形的总面积做比较以百分比显示。建议搭配面积比较 (Area) 一起使用,可用于筛出感量与样品有明显差异的待测物。

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颤动量侦测 (Flutter)

当脉冲电压施加在待测物上时,圈与圈之间的绝缘距离不足但尚未到达绝缘崩溃的程度,就会发生小的电气放电(:电晕放电)。因为这个小的电气放电释放的能量比绝缘崩溃小,所以对谐振波形的总面积没有造成太多的影响。因此,使用面积比较来侦测发生小的电气放电是困难的。颤动量侦测会计算谐振波形垂直 (上下) 的总变化量,并比较待测物与样品之间的差异。当发生小的电气放电时,因为谐振波形上发生颤动,所以波形垂直的总变化量会增加。因此,可利用谐振波形垂直的总变化量的增加来侦测是否有发生小的电气放电。

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二次微分 (Laplacian)

当发生小的电气放电(: 电晕放电)时,因为谐振波形上发生颤动,所以使原本应该平滑的谐振波形变得不平滑。因此,谐振波形会有剧烈的斜率变化。二次微分侦测利用二次微分的计算找出谐振波形最大的斜率变化。所以,可使用二次微分侦测出因小的电气放电造成谐振波形发生剧烈的斜率变化,并有效地将在脉冲测试的过程中发生小的电气放电的不良品筛检出来。

波峰差比 (Peak%)

波峰比(Peak Ratio)与待测物的能量损耗表现有互相关联的关系,而待测物的能量损耗表现则与待测物的质量/Q值也有互相关联的关系。波峰比会自动找出谐振波形的第三个及第五个电压峰值,并计算出谐振波形的第五个电压峰值除以第三个电压峰值后的百分比,减少设定上的复杂度让使用者更容易使用。待测物的品质/Q值越差时,待测物谐振波形的衰减速度也会越快,波峰比就会越小。

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当待测物的质量比样品差或待测物的谐振波形的衰减速度比样品快时,待测物的波峰比就会比样品的波峰比低。因波峰差比(ΔPeak%)将待测物谐振波形的波峰比与样品谐振波形的波峰比相减对待测物与样品进行波峰比的差异比较,所以波峰差比会得到负数的结果。波峰差比可有效地将比样品能量损耗表现较差的待测物筛选出来。

谐振面积比 (Resonant Area)

当开关截止时,待测物会与自体的杂散电容产生谐振,利用自体谐振波形的衰减状态对待测物的质量进行检测。自体谐振波形的衰减状态会受到待测物质量的影响,当待测物的质量越差时,自体谐振波形衰减的速度越快,则待测物谐振波形的总面积就会小于样品谐振波形的总面积。谐振面积比与面积比较非常相似,其差别在于谐振面积比只比较在开关截止后待测物谐振波形与样品谐振波形的总面积差异。因此,谐振面积比可以比面积比较更灵敏的筛检出质量较差的产品。

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频率差比 (fr%)

当开关截止时,待测物会与自体的杂散电容产生谐振,利用待测物与样品谐振频率的差异可对待测物的感量或杂散容量进行检测。因为谐振频率与感量或杂散容量成反比,所以当谐振频率越高表示感量或杂散容量越小。换句话说,谐振波形的频率越低表示感量或杂散容量越大。频率差比是利用待测物自体的谐振频率与感量或杂散容量的互相关系来对待测物与样品进行感量或杂散容量差异的比较,频率差比会计算出待测物与样品谐振波形的频率差异百分比。这就是为什么频率差比可以被用来检测待测物与样品的感量或杂散容量差异。

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脉冲测试比较 (IWT Compare)

当三相马达定子的三个绕组差异过大时,可能会导致马达转子发生旋转不平衡的现象。脉冲测试比较可将不同绕组/相位的线圈进行脉冲测试的交叉比对,并筛选出绕组/相位之间互相差异过大的产品。

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崩溃电压分析模式 (IWT BDV Mode)

崩溃电压分析可测试出绕线组件最高可承受的耐压极限,产品研究开发人员可利用崩溃电压分析模式对产品进行分析与研究,并对产品较弱的地方进行改善。崩溃电压分析模式是将测试电压从起始电压 (Vstart) 依步序 (Vstep) 的百分比逐步上升至结束电压 (Vend)。在测试电压上升的过程中,会将每一步测试电压的谐振波形与前一步测试电压的谐振波形做比较。当面积比较 (Area)、二次微分 (Laplacian) 的值超过设定的上下限,表示待测物的圈与圈之间已经发生绝缘异常的现象,则前一次的测试电压会被判定为待测物的最高耐压,也就是它的崩溃电压。

致茂授权代理商:苏州威锐科电子有限公司

我们的优势:致茂、是德、泰克、日置、海思、固纬、安柏、艾德克斯、普源、同惠、鼎阳、艾诺等

订购信息:

19036 : 绕线组件电气安规扫描分析仪

A131002 : 4端BNC对4端BNC测试线

A165015 : 温度测棒PT100

A190359 : 16HV 高压扫瞄治具

A190360 : 19036 19"机框耳架

A190361 : 19036 数据收集软件

A190362 : 16HV 四线式高压扫瞄治具

A190363 : 双十字高压香蕉头+测试夹

A190364 : 双十字高压香蕉头+截平头 (1.5M)

A190365 : 双十字高压香蕉头+截平头 (3M)







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