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  • RM3545A日置低电阻测试仪
    RM3545A日置低电阻测试仪

    更新时间:2024-06-05

    型号:RM3545A

    人气:445

    日置低电阻测试仪RM3545是6位半,1,200,000点显示,最小分辨率可测量0.01μΩ的电阻。在变频器马达的线圈检查等需要高分辨率的电阻测量等领域游刃有余。在电子零部件方面,多用于导电薄膜/导电橡胶等高电阻材料。RM3545可最大测量到1200MΩ,具备了最高精度0.006%。
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  • WRK-308低电阻测试仪测试线
    WRK-308低电阻测试仪测试线

    更新时间:2023-11-15

    型号:WRK-308

    人气:219

    低电阻测试仪测试线可替代固纬GOM804和GOM805,日置RM3544和RM3545,RM3543,RM3542,RM3542A以及同类的电阻计,低电阻测试仪,验证测试过,没有问题,放心使用。
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  • RM3544日置低电阻测试仪
    RM3544日置低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-23

    型号:RM3544

    人气:320

    日置低电阻测试仪随着变频器电源装置的大电流化,谐波数化,回路中所使用的变频器需要改良得更低电阻以及低损耗,所以需要能够稳定的能够测量更低电阻的需求便应运而生。1μΩ分辨率的RM3544能够满足上述要求。在电子零部件方面,多用于导电薄膜/导电橡胶等高电阻材料,最大可对应3.5MΩ。另外,因为最高精度是0.02%,所以检查0.1%精度的电流检测器也能使用。
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  • RM3545日置低电阻测试仪
    RM3545日置低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-23

    型号:RM3545

    人气:391

    日置低电阻测试仪RM3545是6位半,1,200,000点显示,最小分辨率可测量0.01μΩ的电阻。在变频器马达的线圈检查等需要高分辨率的电阻测量等领域游刃有余。在电子零部件方面,多用于导电薄膜/导电橡胶等高电阻材料。RM3545可最大测量到1200MΩ,具备了最高精度0.006%。
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  • HP3540B和普低电阻测试仪
    HP3540B和普低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-09

    型号:HP3540B

    人气:317

    HP3540A/ HP3540B和普低电阻测试仪是和普电子在电阻测试领域多年的测试经验下重点推出的一款针对电缆、材料、分流器等行业的超低电阻测试需求的直流电阻测试仪,具有业内超高精度和高稳定性,测试最小分辨率可达0. 1 μ Ω。采用脉冲正反向电流测试模式,相比传统直流电阻测试仪在测试同等小电阻时仅需十分之一 电流,极大的降低了大电流在测试过程中对被测物发热带来的测试误差。
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  • HP3540A和普低电阻测试仪
    HP3540A和普低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-09

    型号:HP3540A

    人气:301

    HP3540A/ HP3540B和普低电阻测试仪是和普电子在电阻测试领域多年的测试经验下重点推出的一款针对电缆、材料、分流器等行业的超低电阻测试需求的直流电阻测试仪,具有业内超高精度和高稳定性,测试最小分辨率可达0. 1 μ Ω。采用脉冲正反向电流测试模式,相比传统直流电阻测试仪在测试同等小电阻时仅需十分之一 电流,极大的降低了大电流在测试过程中对被测物发热带来的测试误差。
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  • HP3542和普低电阻测试仪
    HP3542和普低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-09

    型号:HP3542

    人气:288

    HP3545/3542和普低电阻测试仪是业内较高精度等级的直流电阻测试仪之一。HP3545直流电阻测试仪为6位半,1.200,000显示,低功率测试模式,最小分辨率可测量0.01μΩ的电阻,测试仪精度0.01%,应用于精密电阻批量分选和分流器精确测试等需要高分辨率电阻测量的领域 。HP3545具有高速的测试线异常检测功能和极短的测量周期,最高测试速度可达2.2ms,能确保每次做出高速可靠的分选。
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  • HP3545和普低电阻测试仪
    HP3545和普低电阻测试仪

    更新时间:2023-10-09

    型号:HP3545

    人气:300

    HP3545/3542和普低电阻测试仪是业内较高精度等级的直流电阻测试仪之一。HP3545直流电阻测试仪为6位半,1.200,000显示,低功率测试模式,最小分辨率可测量0.01μΩ的电阻,测试仪精度0.01%,应用于精密电阻批量分选和分流器精确测试等需要高分辨率电阻测量的领域 。HP3545具有高速的测试线异常检测功能和极短的测量周期,最高测试速度可达2.2ms,能确保每次做出高速可靠的分选。
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